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紫外成像儀檢測)和IR(紅外熱像儀檢測)技術的比較
[ 2014/11/3 18:22:08 ] [轉載請注明來源:就是要儀器網]

UV紫外成像儀檢測)和IR(紅外熱像儀檢測)技術的比較。UV檢測和紅外成像是一種互補性而非沖突性技術。電力設施一個完整的檢測應該包括紫外成像、紅外成像和可見光檢測。電暈是一種發(fā)光的表面局部放電,由于空氣局部高強度電場而產生電離。該過程引起微小的熱量,通常紅外檢測不能發(fā)現。紅外檢測通常是在高電阻處產生熱點。紫外成像儀可以看到的現象往往紅外成像儀不能看到,而紅外成像儀可以看到的現象往往紫外成像儀不能看到。

UV和IR檢測參數

項目

紫外UV檢測

紅外IR檢測

光譜范圍

0.250-0.280微米,用于白天電暈的檢測

8-14微米

儀器敏感范圍

紫外輻射

熱產生的紅外輻射

產生原因

絕緣子、套管、導線、污染產生電暈和電??;導線損壞;分離器松弛;部件的尖部;安裝不當的復合絕緣子;缺少弧型喇叭等

有電流時的高電阻缺陷。連接不良;帶電絕緣子內部缺陷,電弧。

電力因素

與電壓有關

與電流有關

檢測時加載

需要

需要

強陽光的干擾

無,Daycor 成像儀不受太陽光的影響。儀器完全為太陽盲區(qū)

天氣狀況

高濕度,低氣壓和高溫促進電暈放電

高溫天氣干擾檢測,雨天不能檢測

缺陷的檢測導致:

 

 

音頻噪音

TV和無線電干擾

可以

儀器特性:

 

 

成像通道

雙通道:可見光+UV,可合成一個視頻圖像

單通道或者可見光+紅外通道

FOV

 

UV成像儀寬

輸出

視頻剪輯

靜態(tài)

檢測模式

便攜式,固定式,機載式

便攜式,固定式,機載式

檢測階段

一般可檢測出缺陷劣化前期

往往檢測缺陷后期的現象

 

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